納米顆粒粒徑檢測，顆粒的大小稱為粒度，通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長表示。粒徑是顆粒的直徑。然而實際中的顆粒大多是不規(guī)則的，所以，為了更方便的描述顆粒的大小，在實際測算中，將不規(guī)則的顆粒等效為規(guī)則球，并以其直徑作為顆粒的粒度。這就是“等效圓球理論”。
 

　　今天，一起來了解一下納米顆粒粒徑檢測的篩分法、顯微(圖像)法、沉降法、電阻法。
 

　　1.篩分法：篩分法測定粒徑時，按照被測試樣的粒徑大小及分布范圍，將大小不同篩孔的篩子疊放在一起進(jìn)行篩分，收集各個篩子的篩余量，稱量求得被測試樣以重量計的顆粒粒徑分布。
 

　　2.顯微鏡(圖像)法：顯微鏡圖像法能同時觀察顆粒的形貌及直觀地對顆粒的幾何尺寸進(jìn)行測量，經(jīng)常被用來作為對其他測量方法的一種校驗或標(biāo)定。該類儀器由顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼相機(jī))、圖形采集卡、計算機(jī)(圖像分析儀)等部分組成。
 

　　3.沉降法：沉降法的原理是基于顆粒處于懸浮體系時，顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡，并且黏滯力服從Stokes定律來實施測定的，此時顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降，而且沉降速度與粒度大小的平方成正比。
 

　　4.電阻法：適合對粒度分布比較窄的顆粒進(jìn)行測量。它的工作原理相對比較簡單：懸浮在電解液中的顆粒在負(fù)壓作用下通過一個由紅寶石制成的小孔，兩個鉑電極組成的電阻式傳感器分別插浸在小孔的兩側(cè)，顆粒通過小孔時電極間電阻增大，產(chǎn)生一個電壓脈沖。脈沖的幅值對應(yīng)于顆粒的體積和相應(yīng)的粒徑，脈沖的個數(shù)對應(yīng)于顆粒的個數(shù)。對所有各個測量到的脈沖計數(shù)并確定其幅值，即可得出顆粒的大小，統(tǒng)計出顆粒的分布。因為可以測得顆粒數(shù)量，因此又稱庫爾特計數(shù)法。
 

　　關(guān)于納米顆粒粒徑檢測的介紹就到這里了，希望這篇文章能讓你對產(chǎn)品有更多了解！