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納米粒度及Zeta電位分析儀的原理介紹

 更新時間:2022-06-15 點擊量:1758
  納米粒度及Zeta電位分析儀集成了動態(tài)光散DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
 
  納米粒度及Zeta電位分析儀的原理
 
  當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時,由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移,導致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化,該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關,而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小,顆粒大布朗運動速度低,反之顆粒小布朗運動速度高,使用光子探測器在固定的角度采集散射光,通過相關器進行自相關運算得到相關函數,再經過數學反演獲得顆粒粒徑信息。
 
  納米粒度及Zeta電位分析儀的測量方法
 
  1.電泳法。當電場應用于電解質時,懸浮在電解質中的帶電粒子被吸引到相反電荷的電極上,作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運動.當這兩種對抗達到平衡時,粒子以恒定的速度移動,我們通常稱之為電泳遷移率。
 
  2.流動電位法。流動電位是指當電解質溶液在帶電荷的絕緣表面流動時,表面的雙層自由帶電荷顆粒將沿溶液流動方向移動。這些帶電荷顆粒的運動導致下游電荷積累,上下游之間的電位差是流動電位。
 
  3.超聲電聲法。在膠體溶液兩側施加電壓,帶點粒子運動會產生聲波,測量聲波,計算粒子的動態(tài)遷移率,然后計算Zeta電位。
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